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熊本大学工学部
知能生産システム工学科 知能材料学講座
大野研究室



  左の写真は、Snめっき上に生じるウィスカーの写真です。 電子部品の外部電極として使用されるリードフレームには、従来Sn-Pb系めっきが用いられてきましたが、 近年は鉛フリー化が求められており、Pbフリーはんだめっきへの要求が高まっております。
 Pbフリーめっきとして、さまざまな候補が挙げられておりますが、本研究室では純Snめっきでの検討を行っております。 純Snめっきの問題点として第一にウィスカーの発生があります。ウィスカーは長いもので200μmまで成長するものもあり、 ICのリードフレームでショートを起こす可能性が指摘されております。そこで、ウィスカーの抑制方法の検討と成長メカニズムについて研究を進めております。
Last Update 2005.6.1

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E-mail: yaohno11@gpo.kumamoto-u.ac.jp
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